本發(fā)明涉及半導(dǎo)體領(lǐng)域,尤其涉及一種切割后晶圓檢測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù):
1、晶圓是指制作硅半導(dǎo)體電路所用的硅晶片。晶圓劃片,也稱晶圓切割,指的是將單個(gè)晶圓切割成多個(gè)獨(dú)立的芯片(die)的過(guò)程。主流的晶圓劃片方式一般有機(jī)械劃片、激光劃片等。
2、無(wú)論是機(jī)械劃片還是激光劃片,都有可能造成die的邊、角甚至其他位置產(chǎn)生破損,即產(chǎn)生次品。因此在晶圓切割后,需要通過(guò)高清相機(jī)檢查芯片是否良品。為了更好的檢查切割后的芯片是否為良品,高清相機(jī)的清晰度較高但視野較小,因此通常一個(gè)芯片需要拍攝多張照片,然后對(duì)照片進(jìn)行拼接后進(jìn)行檢查。
3、現(xiàn)有技術(shù)中,在晶圓加工和劃片的過(guò)程中,為了保護(hù)晶圓和芯片,會(huì)在晶圓的單面或兩面貼藍(lán)膜。在晶圓切割后,藍(lán)膜會(huì)變形且變形不規(guī)則,導(dǎo)致切割后的芯片排列不規(guī)則。而現(xiàn)有技術(shù)中的檢測(cè)方法,解決切割后芯片排列不規(guī)則的方法是增加高清相機(jī)的拍攝范圍,即對(duì)于一個(gè)切割后的芯片拍攝更多的照片,這使得檢查過(guò)程要耗費(fèi)較多的存儲(chǔ)資源和計(jì)算資源,成本較高且效率較低。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、為了解決上述技術(shù)問(wèn)題或者至少部分地解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種切割后晶圓檢測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
2、第一方面,本發(fā)明提供了一種切割后晶圓檢測(cè)方法,所述方法包括:
3、采用大視野拍攝,以獲得完整晶圓照片;
4、根據(jù)所述完整晶圓照片,獲取由晶圓被切割而成的多個(gè)die之間的分隔點(diǎn);
5、根據(jù)所述分隔點(diǎn),獲取拍攝軌跡;
6、根據(jù)所述拍攝軌跡,采用小視野拍攝以獲取多張局部晶圓照片;
7、根據(jù)所述局部晶圓照片,識(shí)別角點(diǎn);
8、根據(jù)所述拍攝軌跡和所述角點(diǎn),獲取每張所述局部晶圓照片所屬的die;
9、根據(jù)每張所述局部晶圓照片所屬的die,將所述局部晶圓照片分割,以獲取分割照片;
10、所述根據(jù)所述拍攝軌跡和所述局部晶圓照片的尺寸,獲取相鄰所述局部晶圓照片的重疊像素;
11、根據(jù)所述拍攝軌跡和所述重疊像素,將屬于目標(biāo)die的分割照片和屬于所述目標(biāo)die的局部晶圓照片拼接為目標(biāo)die完整圖,以對(duì)所述切割后晶圓進(jìn)行檢測(cè);
12、其中,每張所述局部晶圓照片的尺寸小于一個(gè)完整die的尺寸。
13、可選的,所述根據(jù)所述分隔點(diǎn),獲取拍攝軌跡,包括:
14、獲取每?jī)蓚€(gè)相鄰的所述分隔點(diǎn)之間的距離作為第一距離;
15、獲取所有所述第一距離中的最大值作為第二距離;
16、根據(jù)所述第二距離和局部晶圓照片尺寸,獲取拍攝軌跡。
17、可選的,所述拍攝軌跡包括掃描路徑和拍攝點(diǎn)位,
18、所述根據(jù)所述第二距離和局部晶圓照片尺寸,獲取拍攝軌跡,包括:
19、根據(jù)所述第二距離和所述局部晶圓照片尺寸,獲取每?jī)蓚€(gè)相鄰分隔點(diǎn)之間的拍攝張數(shù);
20、根據(jù)所述拍攝張數(shù),獲取拍攝點(diǎn)位;
21、根據(jù)所述拍攝點(diǎn)位,規(guī)劃掃描路徑;
22、其中,所述拍攝張數(shù)包括x軸拍攝張數(shù)和y軸拍攝張數(shù),所述掃描路徑為多個(gè)拍攝點(diǎn)位的順序。
23、可選的,所述根據(jù)所述局部晶圓照片,識(shí)別角點(diǎn),包括:
24、從所述局部晶圓照片中獲取包括分隔點(diǎn)的照片作為第一圖像;
25、根據(jù)識(shí)別模板,從所述第一圖像中識(shí)別出角點(diǎn)。
26、可選的,所述根據(jù)所述拍攝軌跡和所述角點(diǎn),獲取每張所述局部晶圓照片所屬的die,包括:
27、根據(jù)所述識(shí)別模板,獲取每個(gè)角點(diǎn)的位置類型;
28、根據(jù)所述位置類型和所述拍攝軌跡,獲取屬于同一個(gè)die的所述第一圖像;
29、將不包括所述分隔點(diǎn)的所述局部晶圓照片作為第二圖像;
30、根據(jù)所述拍攝軌跡,獲取每張所述第二圖像所屬的die;
31、其中,所述位置類型包括第一類型、第二類型、第三類型和第四類型,所述同一個(gè)die包括四個(gè)角點(diǎn),且所述四個(gè)角點(diǎn)的所述位置類型不相同。
32、可選的,所述根據(jù)所述拍攝軌跡和所述局部晶圓照片的尺寸,獲取相鄰所述局部晶圓照片的重疊像素,包括:
33、獲取所述拍攝軌跡中的相鄰拍攝點(diǎn)位之間的點(diǎn)位距離;
34、根據(jù)所述點(diǎn)位距離和所述局部晶圓照片的尺寸,獲取所述重疊像素;
35、其中,所述重疊像素包括x軸重疊像素和y軸重疊像素。
36、可選的,所述根據(jù)所述拍攝軌跡和所述重疊像素,將屬于目標(biāo)die的分割照片和屬于所述目標(biāo)die的局部晶圓照片拼接為目標(biāo)die完整圖,以對(duì)所述切割后晶圓進(jìn)行檢測(cè),包括:
37、將屬于目標(biāo)die的分割照片和屬于所述目標(biāo)die的局部晶圓照片作為待拼接圖像;
38、獲取所述拍攝點(diǎn)位在所述待拼接圖像中的位置作為拍攝位置;
39、根據(jù)所述拍攝軌跡和所述拍攝位置,獲取每個(gè)所述拍攝點(diǎn)位在小視野坐標(biāo)系下的點(diǎn)位坐標(biāo);
40、根據(jù)所述局部晶圓照片尺寸、所述點(diǎn)位坐標(biāo)和所述拍攝位置,獲取每張所述待拼接圖像的坐標(biāo)范圍;
41、根據(jù)角點(diǎn)坐標(biāo),獲取目標(biāo)die完整圖的坐標(biāo)范圍;
42、根據(jù)所述待拼接圖像的坐標(biāo)范圍和所述目標(biāo)die完整圖的坐標(biāo)范圍,獲取seg位置;
43、根據(jù)所述seg位置,將所述待拼接圖像拼接為目標(biāo)die完整圖;
44、其中,所述seg位置用于指示所述待拼接圖像中的部分die區(qū)域相對(duì)于所述目標(biāo)die完整圖的位置。
45、第二方面,提供了一種切割后晶圓檢測(cè)裝置,所述裝置包括:
46、拍攝單元,用于采用大視野拍攝,以獲得完整晶圓照片;
47、分隔點(diǎn)獲取單元,根據(jù)所述完整晶圓照片,獲取由晶圓被切割而成的多個(gè)die之間的分隔點(diǎn);
48、軌跡獲取單元,用于根據(jù)所述分隔點(diǎn),獲取拍攝軌跡;
49、所述拍攝單元還用于根據(jù)所述拍攝軌跡,采用小視野拍攝以獲取多張局部晶圓照片;
50、識(shí)別單元,用于根據(jù)所述局部晶圓照片,識(shí)別角點(diǎn);
51、拼接單元,用于根據(jù)所述拍攝軌跡和所述角點(diǎn),獲取每張所述局部晶圓照片所屬的die;
52、所述拼接單元還用于根據(jù)每張所述局部晶圓照片所屬的die,將所述局部晶圓照片分割,以獲取分割照片;
53、所述拼接單元還用于根據(jù)所述拍攝軌跡和所述局部晶圓照片的尺寸,獲取相鄰所述局部晶圓照片的重疊像素;
54、所述拼接單元還用于將屬于目標(biāo)die的分割照片和屬于所述目標(biāo)die的局部晶圓照片拼接為目標(biāo)die完整圖,以對(duì)所述切割后晶圓進(jìn)行檢測(cè);
55、其中,每張所述局部晶圓照片的尺寸小于一個(gè)完整die的尺寸。
56、第三方面,提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備,包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如上任一項(xiàng)所述的方法。
57、第四方面,提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上任一項(xiàng)所述的方法。
58、本發(fā)明提供了一種切割后晶圓檢測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),所述方法包括:采用大視野拍攝,以獲得完整晶圓照片;根據(jù)所述完整晶圓照片,獲取由晶圓被切割而成的多個(gè)die之間的分隔點(diǎn);根據(jù)所述分隔點(diǎn),獲取拍攝軌跡;根據(jù)所述拍攝軌跡,采用小視野拍攝以獲取多張局部晶圓照片;根據(jù)所述局部晶圓照片,識(shí)別角點(diǎn);根據(jù)所述拍攝軌跡和所述角點(diǎn),獲取每張所述局部晶圓照片所屬的die;根據(jù)每張所述局部晶圓照片所屬的die,將所述局部晶圓照片分割,以獲取分割照片;所述根據(jù)所述拍攝軌跡和所述局部晶圓照片的尺寸,獲取相鄰所述局部晶圓照片的重疊像素;根據(jù)所述拍攝軌跡和所述重疊像素,將屬于目標(biāo)die的分割照片和屬于所述目標(biāo)die的局部晶圓照片拼接為目標(biāo)die完整圖,以對(duì)所述切割后晶圓進(jìn)行檢測(cè);其中,每張所述局部晶圓照片的尺寸小于一個(gè)完整die的尺寸。本發(fā)明實(shí)施例的方法中,在將局部晶圓照片拼接為目標(biāo)die完整圖之前,先識(shí)別出角點(diǎn),根據(jù)角點(diǎn)對(duì)局部晶圓照片進(jìn)行分割,將不屬于目標(biāo)die的部分切割掉再進(jìn)行拼接,從而在拼接過(guò)程中節(jié)約了大量的圖像識(shí)別過(guò)程,可以提高拼接速度,還可以節(jié)約系統(tǒng)資源,減少成本。