本發(fā)明涉及電化學(xué)傳感器領(lǐng)域，尤其涉及一種電化學(xué)阻抗特性測試方法、系統(tǒng)、裝置及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、電化學(xué)工作站是一種廣泛應(yīng)用于分析和測量電化學(xué)裝置的實(shí)驗(yàn)儀器，它能夠通過測量電流、電壓、電位等參數(shù)，通過測量得到的參數(shù)分析得到電化學(xué)裝置的相關(guān)參數(shù)(如電化學(xué)裝置的阻抗)，以進(jìn)一步分析得到電化學(xué)裝置的電化學(xué)阻抗隨頻率變化的特性。但電化學(xué)工作站的體積較大，不具備便攜性，而且需要專業(yè)的人員進(jìn)行操作維護(hù)，較難實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場實(shí)時(shí)檢測；對此，現(xiàn)有技術(shù)中出現(xiàn)的便攜式分析儀，可以進(jìn)行現(xiàn)場實(shí)時(shí)檢測，解決便攜性不足的問題。但是其小型化的代價(jià)是測量精度降低，其測量結(jié)果的精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)不如電化學(xué)工作站。

2、因此，在現(xiàn)有技術(shù)中，對電化學(xué)裝置進(jìn)行電化學(xué)阻抗特性測量的測量精度有待提高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，為解決上述問題之一，本發(fā)明實(shí)施例的目的是提供一種電化學(xué)阻抗特性測試方法、系統(tǒng)、裝置及存儲介質(zhì)，能夠提高對電化學(xué)裝置進(jìn)行電化學(xué)阻抗特性測量的測量精度。

2、一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電化學(xué)阻抗特性測試方法，所述方法包括：

3、獲取測試參數(shù)；所述測試參數(shù)包括檢測頻率范圍；

4、基于所述測試參數(shù)確定激勵(lì)信號，分別對校準(zhǔn)電阻和待測裝置施加所述激勵(lì)信號并收集響應(yīng)信號，得到測試結(jié)果數(shù)據(jù)；

5、基于預(yù)設(shè)方式對所述測試結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到數(shù)據(jù)處理結(jié)果；所述數(shù)據(jù)處理結(jié)果包括所述待測裝置的阻抗實(shí)部數(shù)據(jù)和阻抗虛部數(shù)據(jù)；

6、基于所述數(shù)據(jù)處理結(jié)果確定所述待測裝置的電化學(xué)阻抗特性測試結(jié)果。

7、具體地，所述校準(zhǔn)電阻的阻值為預(yù)設(shè)值；所述分別對校準(zhǔn)電阻和待測裝置施加所述激勵(lì)信號并收集響應(yīng)信號，得到測試結(jié)果數(shù)據(jù)，包括：

8、將所述激勵(lì)信號施加至所述待測裝置，得到第一響應(yīng)信號；

9、將所述激勵(lì)信號施加至所述校準(zhǔn)電阻，得到第二響應(yīng)信號；

10、基于第一預(yù)設(shè)公式、所述預(yù)設(shè)值、所述第一響應(yīng)信號和所述第二響應(yīng)信號進(jìn)行計(jì)算，得到所述測試結(jié)果數(shù)據(jù)。

11、具體地，所述基于預(yù)設(shè)方式對所述測試結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到數(shù)據(jù)處理結(jié)果，包括：

12、對所述測試結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行信號放大，得到第一結(jié)果數(shù)據(jù)；

13、對所述第一結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波處理，得到第二結(jié)果數(shù)據(jù)；

14、對所述第二結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行離散傅里葉變換，得到數(shù)據(jù)處理結(jié)果。

15、具體地，所述基于所述數(shù)據(jù)處理結(jié)果確定所述待測裝置的電化學(xué)阻抗測試結(jié)果，包括：

16、基于預(yù)設(shè)算法、所述待測裝置的阻抗實(shí)部和阻抗虛部進(jìn)行計(jì)算，得到所述待測裝置的阻抗模值數(shù)據(jù)和阻抗相位數(shù)據(jù)；

17、基于所述待測裝置的阻抗實(shí)部數(shù)據(jù)和阻抗虛部數(shù)據(jù)，構(gòu)建第一圖像；

18、基于所述檢測頻率范圍、所述待測裝置的阻抗模值數(shù)據(jù)和阻抗相位數(shù)據(jù)，構(gòu)建第二圖像；

19、根據(jù)所述第一圖像和所述第二圖像進(jìn)行分析，根據(jù)分析結(jié)果確定所述待測裝置的電化學(xué)阻抗特性測試結(jié)果。

20、進(jìn)一步地，所述電化學(xué)阻抗特性測試方法還包括：

21、利用工作站對所述待測裝置進(jìn)行測試，獲得工作站測試比對數(shù)據(jù)；所述工作站測試比對數(shù)據(jù)包括阻抗實(shí)部比對數(shù)據(jù)和阻抗虛部比對數(shù)據(jù)；

22、基于所述阻抗實(shí)部比對數(shù)據(jù)、所述阻抗虛部比對數(shù)據(jù)、所述待測裝置的阻抗實(shí)部數(shù)據(jù)和阻抗虛部數(shù)據(jù)，構(gòu)建第一比對圖像；

23、基于所述待測裝置的測試結(jié)果數(shù)據(jù)和工作站測試比對數(shù)據(jù)進(jìn)行相對誤差計(jì)算，根據(jù)相對誤差的計(jì)算結(jié)果構(gòu)建第二比對圖像；

24、根據(jù)所述第一比對圖像和第二比對圖像進(jìn)行第一分析，根據(jù)第一分析的結(jié)果確定所述待測裝置的電化學(xué)阻抗特性測試結(jié)果的測試精確度。

25、進(jìn)一步地，所述電化學(xué)阻抗特性測試方法還包括：

26、確定若干個(gè)阻值不同的標(biāo)準(zhǔn)電阻在不同測試頻率下的測試結(jié)果；

27、根據(jù)每個(gè)所述標(biāo)準(zhǔn)電阻在不同測試頻率下的測試結(jié)果確定所述標(biāo)準(zhǔn)電阻在不同測試頻率下的變異系數(shù)；

28、根據(jù)每個(gè)所述標(biāo)準(zhǔn)電阻在不同測試頻率下的測試結(jié)果構(gòu)建第三比對圖像；

29、根據(jù)每個(gè)所述標(biāo)準(zhǔn)電阻在不同測試頻率下的變異系數(shù)構(gòu)建第四比對圖像；

30、根據(jù)所述第三比對圖像和第四比對圖像進(jìn)行第二分析，根據(jù)第二分析的結(jié)果確定所述若干個(gè)阻值不同的標(biāo)準(zhǔn)電阻在不同測試頻率下的測試結(jié)果的測試精確度。

31、具體地，所述標(biāo)準(zhǔn)電阻在對應(yīng)測試頻率下的變異系數(shù)通過以下方式確定：

32、獲取所述標(biāo)準(zhǔn)電阻在對應(yīng)測試頻率下的若干個(gè)測試結(jié)果；

33、對若干個(gè)所述測試結(jié)果進(jìn)行計(jì)算，得到若干個(gè)所述測試結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)差；

34、對若干個(gè)所述測試結(jié)果進(jìn)行計(jì)算，得到若干個(gè)所述測試結(jié)果的平均值；

35、基于第二預(yù)設(shè)公式對若干個(gè)所述測試結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)差和平均值進(jìn)行計(jì)算，確定所述標(biāo)準(zhǔn)電阻在對應(yīng)測試頻率下的變異系數(shù)。

36、另一方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種電化學(xué)阻抗特性測試系統(tǒng)，包括：

37、第一模塊，用于獲取測試參數(shù)；所述測試參數(shù)包括檢測頻率范圍；

38、第二模塊，用于基于所述測試參數(shù)確定激勵(lì)信號，分別對校準(zhǔn)電阻和待測裝置施加所述激勵(lì)信號并收集響應(yīng)信號，得到測試結(jié)果數(shù)據(jù)；

39、第三模塊，用于基于預(yù)設(shè)方式對所述測試結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到數(shù)據(jù)處理結(jié)果；所述數(shù)據(jù)處理結(jié)果包括所述待測裝置的阻抗實(shí)部數(shù)據(jù)和阻抗虛部數(shù)據(jù)；

40、第四模塊，用于基于所述數(shù)據(jù)處理結(jié)果確定所述待測裝置的電化學(xué)阻抗特性測試結(jié)果。

41、另一方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種電化學(xué)阻抗特性測試裝置，包括：

42、至少一個(gè)處理器；

43、至少一個(gè)存儲器，用于存儲至少一個(gè)程序；

44、當(dāng)所述至少一個(gè)程序被所述至少一個(gè)處理器執(zhí)行，使得所述至少一個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)如上所述的方法。

45、另一方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其中存儲有處理器可執(zhí)行的程序，所述處理器可執(zhí)行的程序在由處理器執(zhí)行時(shí)用于執(zhí)行如上所述的方法。

46、綜上所述，實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例包括以下有益效果：

47、本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電化學(xué)阻抗特性的測試方法、系統(tǒng)、裝置及存儲介質(zhì)，該方法通過分別對校準(zhǔn)電阻和待測裝置施加激勵(lì)信號并收集響應(yīng)信號的方式得到測試結(jié)果數(shù)據(jù)，對得到的測試結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和可視化處理，根據(jù)最終結(jié)果直接確定待測裝置的電化學(xué)阻抗特性測試結(jié)果；對此，通過施加激勵(lì)信號—收集響應(yīng)信號—數(shù)據(jù)處理及圖像化—得到電化學(xué)阻抗特性測試結(jié)果的過程，能夠簡化對裝置電化學(xué)阻抗特性的分析測量過程，減少復(fù)雜運(yùn)算；同時(shí)，對校準(zhǔn)電阻也進(jìn)行相同的激勵(lì)施加，利用校準(zhǔn)電阻的測試結(jié)果校準(zhǔn)待測裝置的測試結(jié)果，減少對待測裝置進(jìn)行電化學(xué)阻抗測試時(shí)產(chǎn)生的誤差，能夠有效提高進(jìn)行分析和測量電化學(xué)系統(tǒng)的阻抗特性的測量精度；因此，本發(fā)明提供的方法能夠提高對電化學(xué)裝置進(jìn)行電化學(xué)阻抗特性測量的測量精度。